Решение прямой задачи количественного рентгеноспектрального микроанализа с использованием новых аналитических выражений для матричных поправок

Программа реализует решение прямой задачи количественного рентгеноспектрального микроанализа (расчет относительных интенсивностей анализируемых линий в материале извес­тно­го состава).

Назначение - Программа предназначена для расчета матричных  поправок при проведении коррекции измеренных значений интенсивности рентгеновского характеристического излучения в локальной области образца и эталона. В состав матричных поправок входят: поправка на поглощение рентгеновского характеристического излучения, поправка на торможение электронов в мишени, поправка на обратное рассеяние электронов пучка и новая поправка, учитывающая  различие концентрации атомов в эталоне и образце.

Область применения - В рентгеновском электронно-зондовом микроанализе для измерения и контроля элементного состава вещества с точностью 2-5%.

Используемый алгоритм - В основе поправки на поглощение рентгеновского характеристического излучения заложена аналитическая модель функции распределения рентгеновского характеристического излучения по массовой толщине образца φ(ρz), представленная в работе [1]. Модель φ(ρz) учитывает: наличие обратно рассеянных первичных электронов; влияние неупругого рассеяния электронов пучка на распределение в образцах с низким значением среднего атомного номера; пространственную симметрию протекания процесса многократного рассеяния относительно положения координаты максимума распределения   поглощенных электронов пучка. Аналитические выражения для поправок на поглощение, торможение и обратное рассеяние представлены в работах [2-4]. Все четыре поправки рассчитываются каждая в отдельности.

В качестве входных данных используются следующие  параметры: атомный номер, атомный вес, плотность, коэффициент обратного рассеяния, средний ионизационный потенциал анализируемого объекта, начальная энергия пучка электронов, массовый коэффициент поглощения и критическая энергия возбуждения анализируемой линии.

Функциональные возможности - возможно уточнение величины  массового коэффициента поглощения анализируемой линии рентгеновского излучения.

Использованные источники:

1. Михеев Н.Н., Степович М.А., Широкова Е.В. Функция распределения по глубине рентгеновского характеристического излучения при локальном электронно-зондовом анализе // Известия РАН. Серияфизическая. – 2010. – Т. 74, № 7. – С. 1043-1047. ISSN 0367-6765.

2.  Михеев Н.Н., Степович М.А., Широкова Е.В.. Учет матричных эффектов при локальном электроннозондовом анализе с использованием новой модели функции распределения по глубине рентгеновского характеристического излучения // Известия РАН. Серия физическая. – 2012. – Т. 76, № 9. –С. 1112-1115

3. Михеев Н.Н., Степович М.А., Широкова Е.В Распределение средних потерь энергии пучка электронов по глубине образца: применение в задачах количественного рентгеноспектрального микроанализа// Поверхность. рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования.  – 2013. – № 12.– С. 84–89

4. Михеев Н.Н., Степович М.А., Широкова Е.В., Филиппов М.Н  Методика количественного рентгеноспектрального микроанализа с учетом матричных эффектов // Перспективные материалы. – 2014. –  № 2. –С. 77-82